杂质粒度仪
杂质粒度仪及重现性是其他同类产品无可比拟的
杂质粒度仪采用**的设计理念优化结构设计，充分有效地融合了动态光散射（DLS）和电泳光散射（ELS）技术，即可以多角度（步长0.9°）检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度测量Zeta电位。粒度检测分析复合采用 Gaussian 单峰算法和拥有专利技术的 NiComp 无约束自由拟合多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。NiComp 380 ZLS通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量，美国PSS粒度仪是表征胶体分散系稳定性的重要指标，Zeta电位（正或负）越高，体系越稳定。
杂质粒度仪主要特点：
测定粒径范围: 0.5~400 um （可得更大范围）；二次进样指数稀释
全自动进样系统；光 源：波长714nm大功率固体红色激光二极管
通道数：8-512个 （且用户可根据需要自行设定）；进样量：1ul-1000ul
测量时间：10–180s；美国PSS粒度仪专利技术的单粒子光学传感技术 （SPOS技术）
稀 释: 专利技术的全自动进样及稀释功能，避免污染物的入侵
误差率：< 1%, 重现性佳
杂质粒度仪粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175°，步长0.9°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。
想要了解更多详细信息，请咨询站内：http://www.china-pss.com/
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